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光弹性试验中等差线图的应力梯度曲线

The Stress Gradient Curve of Equidifferent Line Diagram in Photoelasticity Experiment
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摘要 在光弹性试验中,由于各种不利因素的影响,往往不能精确测得等差线级数。本文介绍了用应力梯度曲线的方法,较精确地得到所测条纹级数,从而使试验和计算结果更准确。 In photoelasticity experiment,it is usually difficult to measure the series of equidifferent line precisely due to various factors.The paper introduces a method of stress gradient curve,with which we can get the figure measured more precisely and make the results of the rexperiment and calculations more accurate.
作者 丁虹 于衍宏
出处 《山东轻工业学院学报(自然科学版)》 CAS 1997年第4期44-46,共3页 Journal of Shandong Polytechnic University
关键词 光弹性 应力梯度 等差线 试验 photoelasticity,stress gradient,equidifferent line
  • 相关文献

参考文献2

  • 1王达,刘贵杰.检偏镜的多读数补偿[J].山东轻工业学院学报(自然科学版),1996,10(2):10-12. 被引量:1
  • 2天津大学材料力学教研室光弹组.光弹性原理及测试技术[M]科学出版社,1980.

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