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导弹电子舱VXI自动化测试系统的可靠性设计

The design of reliability of missile electronic cabinet based on VXI auto-test system
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摘要 文章主要从军用设备可靠性的角度出发,详述了测试系统的设计过程,包括元器件的选型,系统方案的确定,并对信号调理电路的数学模型做出可靠性分析,计算出系统的MTBF(平均故障间隔时间),为系统的可靠性工作提供理论保证。 This paper introduces the process of test system on the point of military equipments reliability, including the choosing of component, the deciding of system scheme, and analyses the mathematical model of signal detection circuits, the result shows that MTBF(Mean Time Between Failures) provides the academic guarantee for the reliability of the system.
作者 李银龙
出处 《仪器仪表用户》 2008年第4期75-76,共2页 Instrumentation
关键词 导弹电子舱 自动化测试系统 可靠性 MTBF missile electronic cabinet auto-test system reliability MTBF
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