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安捷伦公司最新数字示波器产品加强其高端市场竞争力

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摘要 一年一度的安捷伦科技公司数字测量论坛(ADMF)近日在首尔拉开帷幕,此次数字测量领域盛会的主题是“数字设计测量的未来发展”,主要讨论议题包括DigiRF、MIPI一致性测试、超高速USB3.0、FPGA设计测试和调试,以及低速串行总线调试。今年的AMDF于6月19日至7月17日先后在亚太区的6个国家和地区举办。
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出处 《电子设计应用》 2008年第8期120-120,共1页 Electronic Design & Application World
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