相变型光盘的高密度化技术方向

相变型光盘是检出非晶态光痕和晶态间的光反射率的变化进行信号重放。由于这个特征，使相变型光盘和检出凹凸坑光反射率变化的只读光盘CD—ROM、DVD－ROM兼容的驱动系统成为可能。现在已制成的相变型光盘的记录密度为0．6Gbit／in2，但采用薄型盘基片，使用大数值孔径（NA＝06），并采用平地／凹槽记录及PWM（脉宽调制）记录方式，其记录密度可提高到26Gbit／in2。研究表明，相变型记录膜（GeTe－Sb2Te3－Sb）的光学常数与激光波长的依存性，可以达到兰色激光的短波长响应特性。估计，将来应用这个波长，可使记录密度扩展为现在10倍以上的高记录密度（7～10Gbit／in2）