适用于V93000平台的Inovys硅片调试解决方案

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摘要 V93000 SoC测试系统与Inovys FaultInsyte硅片调试软件结合一起，可满足更高效调试的需求，加速新的系统级芯片（SoC）器件的批量生产。这是一款集成式解决方案，通过把电路故障与复杂的系统级芯片上的物理缺陷对应起来，可以大大缩短错误检测和诊断所需的时间，明显地缩短了制造商采用90nm（及以下）工艺调试、

出处《今日电子》 2008年第8期124-125,共2页 Electronic Products

关键词硅片调试 SOC测试系统系统级芯片平台调试软件批量生产电路故障错误检测

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] TN92 [电子电信—通信与信息系统]

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