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荧光X射线分析仪(XRF)在电子材料检验中的应用

Application of X-ray Fluorescence in Electronic Material Examination
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摘要 近年来X射线荧光光谱分析有了长足的进步,特别在ROHS电子材料检验等方面,得到了广范应用,成为现代分析技术的一种重要手段。 In recent years, the X-ray fluorescence spectrum analysis has made much progress, in particular, in the test of ROHS materials. This analysis has become an important means of modem analysis technology.
作者 李剑亮
出处 《通信与广播电视》 2008年第2期36-41,共6页 Communication & Audio and Video
关键词 荧光X射线 能散型荧光X 射线分析仪(EDX) ROHS指令 X-ray fluorescence spectroscopy energy-dispersed X-ray spectroscopy ROHS ( restriction of the use of certain hazardous substances in electric and electronic equipment)
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