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大容量MLCC的工艺设计 被引量:4

High capacitance MLCC process design
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摘要 采用四层端电极(Ni/Cu/Ni/Sn)结构设计,底层为Ni,电镀Cu/Ni/Sn的工艺方法,制作了大容量MLCC。研究了四层结构和三层结构(Cu/Ni/Sn)对电容量等基本电性能、可靠性和内应力的影响。结果表明:制作1206规格10μFMLCC,C为9.86~10.46μF、tanδ为(360~390)×10–4、绝缘电阻≥1.5×108Ω、耐电压值为175~205V,四层结构与三层结构电性能相当。可靠性测试中,四层结构抗机械和热冲击能力提高了20%,且有利于瓷体内应力释放。 High capacitance MLCC was prepared using four layers terminal electrode structure design (Ni/Cu/Ni/Sn), Ni metal on the bottom, and plating Cu/Ni/Sn process. The effects of four layer (Ni/Cu/Ni/Sn) and three layer (Cu/Ni/Sn) structures on the basic electrical properties such as capacitance, reliability and internal stress were discussed. The results show that 1206 10 μF MLCC is produced with capacitance (9.86-10.46 μF), tan δ [(360-390)× 10^4], insulation resistance (≥1.5 × 10^8 Ω), break voltage (175-205 V) . The electrical properties of four layers structure correspond to three layers structure. The mechanical and thermal shock resistance abilities of the four layers structure MLCC have increased by 20% in the reliability measurements. And it will benefit release of internal stress for ceramic body.
作者 宋子峰
出处 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2008年第8期43-45,共3页 Electronic Components And Materials
关键词 电子技术 MLCC 四层端电板 可靠性 大容量 electron technology MLCC four layers terminal electrode reliability high capacitance
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