评价红外探测器性能的功率测定方法
出处
《红外》
CAS
1990年第10期41-43,共3页
Infrared
-
1王志和.光纤连接器的工厂测定方法[J].文献快报(纤维光学与电线电缆),1993(8):10-14.
-
2张苹迦.一种新的相关函数的测定方法[J].电子测量与仪器学报,1989,3(3):1-9.
-
3李润身,朱南昌.单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法[J].Journal of Semiconductors,1990,11(10):759-767.
-
4郑茳,冯耀兰,魏同立.硅晶体管禁带宽度的测定方法[J].应用科学学报,1990,8(2):126-130.
-
5李润身,朱南昌.单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法[J].科技通讯(上海),1990,4(3):16-23.
-
6高瞻,王峰,丁铁骑.FSO系统中光源和接收器件的选用及性能分析[J].飞通光电子技术,2003,3(2):70-75. 被引量:3
-
7徐立君,蔡红星,李昌立,毕娟,金光勇,张喜和.强激光辐照下光电探测器响应性能的研究[J].应用光学,2010,31(6):1018-1022. 被引量:6
;