期刊文献+

下一代自动化测试系统将以软件为中心 被引量:1

原文传递
导出
摘要 多年来,作为测试测量行业的领导者之一,NI通过跨行业跨应用的探索,对测试测量的未来发展趋势形成了独到的见解。该公司表示,未来几年中,五大趋势将对测试测量行业的发展产生重大影响:
作者 单祥茹
出处 《电子设计技术 EDN CHINA》 2008年第7期122-122,共1页 EDN CHINA
  • 相关文献

同被引文献4

  • 1Maniktala S.王志强译.精通开关电源设计.北京:人民邮电出版社,2008.242-243.
  • 2什么是PXI/CompactPCI--PXI技术指南.美国国家仪器有限公司,2008.
  • 3什么是NI TestStand.美国国家仪器有限公司,2008.
  • 4徐贇.设计下一代自动化测试系统[J].今日电子,2008(8):58-61. 被引量:3

引证文献1

二级引证文献4

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部