用双为微镜测量表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序
摘要
本文介绍了用双管显微镜测量轮廓线采样点坐标值的方法。同时,提出了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。
-
1蒋大文,王志远,谢驰,王晓辉,杨大磊.双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计[J].四川大学学报(工程科学版),2001,33(5):98-101. 被引量:1
-
2黄成锐.新编动态轨道衡计量数据微机处理程序[J].四川电力技术,1993,16(5):37-41.
-
3安丽君.引伸计标定数据的微机处理程序[J].物理测试,1991(4):50-53.
-
4崔向群.用光切显微镜测量表面粗糙时常见的问题及消除方法[J].邢台职业技术学院学报,1997,14(3):61-62.
-
5王晓辉,蒋大文.在给定平面内线对线平行度误差定向最小区域值的微机处理程序[J].计量与测试技术,1999,26(5):6-7.
-
6蒋大文,王晓辉,王志远,谢驰,张印强.用定位最小区域法评定同轴度误差的微机处理程序[J].工具技术,2002,36(4):31-34. 被引量:2
-
7郭文锋,王凌生,李志平,夏美荣,高发明.Urtra-Hard Bonds in P-Carbon Stronger than Diamond[J].Chinese Physics Letters,2015,32(9):100-104.
-
8刘佳生.水准仪测量计算表[J].水利天地,1990,5(1):14-15.
-
9李文广.一种确定轴流泵叶轮直径和汽蚀余量的方法[J].水泵技术,2005(2):8-13. 被引量:1
-
10李琳,唐小虎.用C语言实现表面粗糙度评定参数的计算[J].计量与测试技术,2003,30(3):8-10. 被引量:1