吉时利4200-SCS半导体特征分析系统升级被引量：1

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摘要 2008年7月29日发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，

出处《通用机械》 2008年第8期78-78,共1页 General Machinery

关键词 4200-SCS 功率半导体器件吉时利特征系统测试环境软件升级交互式

分类号 F416.672 [经济管理—产业经济]

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通用机械

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