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第二届国际自动化测试与仪器仪表学术会议(ISTAI’2008)

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摘要 由中国仪器仪表学会(CIS)主办的国际自动化测试与仪器仪表学术会议(ISTAI)是著名的多国仪器仪表学术会议暨展览会(MICONEX)的重要组成部分,隔年举办。第二届ISTAI’2008将由CIS电子测量与仪器分会、北京信息科技大学、《电子测量与仪器学报》杂忐社和北京搜宅网络技术有限公司合作承办,与第十九届多国仪器仪表展览会(MICONEX’2008)在北京同期举办,会议时间为2008年11月。
出处 《国外电子测量技术》 2008年第8期80-80,共1页 Foreign Electronic Measurement Technology

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