新型平面光栅衍射效率扫描测试仪方案

本文提出了一种新型的平面光栅绝对衍射效率扫描测试仪方案,该方案解决了传统的光栅衍射效率测试仪存在的一些问题,给出了光栅的绝对衍射效率,简化了机械结构和电子学控制系统,并提高了测试仪的工作效率。