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平板局部平面度检定的现状与展望
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摘要
综述了各国平板局部平面度检定方法、成就与问题；指出该领域今后的检定发展方向。
作者
张泰昌
机构地区
北京市计量科学研究所
出处
《计量技术》
北大核心
1997年第10期31-34,共4页
Measurement Technique
关键词
平板
局部平面度
检定
测量仪器
分类号
TG832 [金属学及工艺—公差测量技术]
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计量技术
1997年 第10期
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