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锗硅选择性外延在应变技术中的应用

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摘要 多年以来,沿着摩尔定律的途径,人们一直采用对金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)进行等比例微缩来增加器件速度的方法。然而在晶体管尺寸达到65nm以后,常规的微缩方法遇到了以短沟道效应为核心的一系列问题。当器件进一步微缩,随着电流密度的增大,迁移率的提升成为保持晶体管性能的关键.因为电源电压被等比例缩小以降低芯片的动态功耗。
作者 王宸煜
出处 《集成电路应用》 2008年第8期47-48,共2页 Application of IC
  • 相关文献

参考文献2

  • 1Yihwan Kim,et al.Low Temperature Selective Si and Si-Based Alloy Epitaxy for Advanced Transistor Applications[].Materials Research Society Symposium Proceedings.2006
  • 2T Ernst.et al.A new Si:C epitaxial chnnel nMOSFET architecture with improved drivability and short—channel characteristics[].SympVLSI Technology.

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