摘要
'SPIE国际光电子探测与成像学术研讨会'于2007年9月在北京举行。会后共出版了SPIE文集五卷,分别是6621卷、6622卷、6623卷、6624卷和6625卷。第6621卷的内容为光电子成像与探测(Photoelec- tronic Imaging and Detection),大16开本,685页,定价为125元(含邮费);第6622卷的内容为激光、紫外与太赫兹技术(Laser,Ultraviolet and Terahertz Technology),大16开本,683页,定价为125元(含邮费);
出处
《光学技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期619-619,共1页
Optical Technique
