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单片微机系统RAM自检的研究

A Study on Self-checking of RAMs in a Microcontroller System
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摘要 在各种单片微机测控系统中,RAM的正常与否直接关系到该系统的正常工作,RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。本文讨论了单片微机应用系统中RAM自检的方法。 In all kinds of control systems by a microcontroller , it is very important to make sure of RAMs normality in order to avoid unexpected harms. In this paper we discuss this prob-lem and give some new methods on. elf-checking of RAMs.
作者 李力 林凌
出处 《测控技术》 CSCD 1997年第4期25-26,共2页 Measurement & Control Technology
关键词 RAM 自检 单片机 微机测试 RAM, Self-checking, microcontroller
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