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STM和AFM的原理及出现异常情况的处理方法 被引量:1

Principles of STM and AFM and processing methods of unusual cases
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摘要 简单介绍了扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)的工作原理,并详细阐述了实验过程中有时会遇到的异常情况及其处理方法,以便获得最佳的样品图像。 This paper briefly introduces the operation principles of Scanning Tunneling Microscope (STM) and Atomic Force Microscope (AFM),and elaborates some unusual cases encountered in the course of experiment and their processing methods to obtain the best sample image.
作者 张研研 陈祺
出处 《渤海大学学报(自然科学版)》 CAS 2008年第3期268-271,共4页 Journal of Bohai University:Natural Science Edition
关键词 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 原理 异常情况 STM AFM principle unusual case
  • 相关文献

参考文献2

  • 1[1]白春礼.扫描隧道显徽术及其应用[M].上海:上海科学技术出版社,1994.
  • 2[2]BINNIG G.QUATEC,GERBERC.Atomic Force Microscopy[J].Phys.Rev,Lett,1986.56(9):930.

同被引文献1

引证文献1

二级引证文献1

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