出处
《低压电器》
北大核心
1997年第4期43-44,共2页
Low Voltage Apparatus
同被引文献12
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1王朝志.电子元器件老化测试系统的研制[J].自动化博览,2011,28(S1):91-92. 被引量：3
-
2蔡杰.元器件老化和存储器老化测试系统[J].中国科技信息,2005(11):81-81. 被引量：1
-
3电子器件的筛选与检测[J].电子制作,2009,17(8):39-41. 被引量：1
-
4丁继善.国内半导体器件的可靠性筛选技术[J].半导体技术,1999,24(3):55-57. 被引量：7
-
5黄涛,赵晋.高可靠性电子式剩余电流动作断路器[J].低压电器,2011(2):62-64. 被引量：3
-
6邹城华,王卫国,卢权胜,高翔.THB1LE-63剩余电流动作断路器的研制开发[J].低压电器,2011(17):57-60. 被引量：1
-
7刘瑛.电子元器件老化筛选过程的质量控制[J].科技信息,2011(26):350-351. 被引量：5
-
8杨宝康,张德林.工程机械产品中老化电器元件的修复[J].建设机械技术与管理,2011,24(9):129-130. 被引量：2
-
9余存泰.剩余电流动作断路器电路优化设计[J].低压电器,2013(15):26-28. 被引量：5
-
10陈克明.用测量正偏二次击穿参数筛选大功率器件[J].江苏电器,2001(1):18-22. 被引量：4
二级引证文献3
-
1薛燕,于梦娇,刘玉波,段长生,东方.元器件老化筛选试验装置校准系统设计[J].计量与测试技术,2018,45(4):7-9.
-
2门百永,鞠晓东,王邦伟,刘先平,卢俊强,乔文孝.声波测井模拟电路老化及检测系统研制[J].计算机测量与控制,2018,26(12):58-62. 被引量：1
-
3李立,景阳.核电仪控产品部件老化筛选[J].核电子学与探测技术,2018,38(6):877-880.
-
1赵清宇,苏本贞.日制NCL550A自动纠错终端装置简介[J].航海技术,1989(1):66-68.
-
2翁楚文.采用ZigBee技术的无线环境监测装置简介[J].中国电子商务,2014(15):44-44.
-
3缪义斌.CATV前端接地装置简介[J].中国有线电视,2004(6):101-102.
-
4顾金虎,刘义保,杨波,张涛,刘立坡,王娟.康普顿效应散射装置简介[J].物理与工程,2009,19(1):33-35. 被引量：4
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