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SnO_2薄膜的化学气相淀积 Ⅱ.SnO_2薄膜的结构和气敏性能

Chemical Vapor Deposition of Thin SnO_2 Films Ⅱ.Structure and Gas Sensitive Character of Thin SnO_2 Films
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摘要 研究了用化学气相淀积方法制备的SnO_2薄膜的组成。晶体结构和气敏性能。发现薄膜为多晶结构,在薄膜生长过程中,(200)、(110)晶面择优生长;薄膜对H_2的气敏灵敏度随温度的升高而增加,并存在一合适的工作温度范围:100~250℃。 The chemical composition, crystal structure and gas sensitive character of the thin SnO_2 films by CVD method have been studied. It is discovered that the structure of the film is polycrystalline. These films are prefcrentially orientedin the (200) and (110) direc-tions in growing process. Gas sensitivity of the films to H_2 will increase with increasing temperature within the optimum temperature range 100~250℃
出处 《华东化工学院学报》 CSCD 1990年第3期249-255,共7页
基金 自家自然科学基金 编号 2870342
关键词 二氧化锡 化学气相淀积 薄膜 chemical vapor deposition tin oxide thin film structure gas sensitivity
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