安捷伦科技公司推出新型X系列测量应用软件自动执行LTE测量

2008年7月24日，安捷伦科技公司（NYSE：A）日前推出了用于X系列信号分析仪的新型3GPPLTE测量应用软件。该软件提供了业内最全面的嵌入式解决方案，配有硬件／功能键和SCPI编程用户界面，用户可在测试机柜内完成上行链路（UL）和下行链路（DL）LTE信号的物理层测试。与业界领先的AgilentX系列分析仪连用时，此应用软件可以提供市场上最快的LTE测量速度，这使它特别适用于进行设计验证和原型制作过程中的自动测试。