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单片机控制的PTCR热敏电阻器阻-温特性测试系统 被引量:1

A Single Chip Computer Controlled R T Test System for PTCR Thermistors
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摘要 介绍一种用MCS-51单片机控制的PTCR热敏电阻器阻-温特性测试系统,其中分压取样电阻器采用模拟开关进行切换。测试系统由样品室、模拟开关、R-V变换器、信号放大器、A/D转换器、D/A转换器、记录仪、单片机和打印机等部分组成,样品室内设有加热电炉和热电偶等部件。 The system is composed of a sample chamber, an analog switch, a R V convertor, a signal amplifier, an A/D converter, a D/A converter, a recorder, a single chip computer and a printer. The chamber is furnished with a furnace and a thermocouple. The divider resistors are controlled by the analog switch.
机构地区 华中理工大学
出处 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1997年第6期47-49,共3页 Electronic Components And Materials
关键词 PTCR 热敏电阻器 阻-温特性 测试系统 PTCR thermistors, resistance temperature characteristic, test system, MCS-51 single chip computer, analog switch
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