期刊文献+

晶体管反向击穿电压测试附加器

下载PDF
导出
摘要 晶体管反向击穿电压的测量是电子爱好者感到比较困难的一件事,常用的JT-1型晶体管特性图示代也只能测到200V,不能测量高反压晶体管。本文介绍一种晶体管反向击穿电压测试附加器,配合500型等万用表使用,测量范围为0~1000V,可满足一般测量要求。
作者 吴汉清
出处 《电子制作》 1997年第12期25-25,共1页 Practical Electronics
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部