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降低测试成本,提高吞吐率被引量：2

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摘要在测试、组装和封装TechXPOT的“成品率管理”分会上,很多与会者展示了降低不断飞升的测试成本的重要性。总的来说,与会者都能就下述观点达成一致,即随着芯片复杂性的不断提高以及器件平均售价（ASP）的不断降低,

作者 Alexander Braun

出处《集成电路应用》 2008年第9期43-43,共1页 Application of IC

关键词测试成本吞吐率成品率复杂性封装器件

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] TP393 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]

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集成电路应用

2008年第9期

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