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KLA-TENCOR推出磁盘驱动器基片和盘片缺陷检查的新技术
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摘要
KLA-Tencor公司针对硬盘驱动器基片与盘片高级缺陷检查推出了Candela7100系列。7100系列建立在备受肯定且已量产化的Candela产品线基础上,专为帮助制造商识别与分类诸如凹陷、凸起、微粒及隐藏缺陷等亚微米级关键缺陷而设计,可以提升良率,降低检测的总成本。
出处
《电子工业专用设备》
2008年第10期70-70,共1页
Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词
KLA-Tencor公司
缺陷检查
磁盘驱动器
盘片
基片
技术
硬盘驱动器
亚微米级
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP333.35 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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电子工业专用设备
2008年 第10期
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