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金属薄膜的质量造成电阻器失效的分析

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摘要 金属薄膜电阻器失效,主要是由于导电薄膜的缺陷造成的,本文介绍并分析了导电薄膜缺陷的主要表现,产生的机理及解决的办法。
作者 金力成 金波
出处 《安徽电子信息职业技术学院学报》 2008年第5期22-23,共2页 Journal of Anhui Vocational College of Electronics & Information Technology
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