期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
SiTest Solutions采用惠瑞捷V5000e进行闪存测试
下载PDF
职称材料
导出
摘要
惠瑞捷半导体科技有限公司(NASDAQ:VRGY)日前宣布,提供测试工程设计解决方案和服务的领导服务提供商——SiTest Solutions公司已经选择惠瑞捷V5000系列作为闪存测试平台。V5000e将允许SiTest Solutions在不断扩大的一系列功能中增加NANDN闪存测试和专用存储器测试功能。
出处
《国外电子测量技术》
2008年第10期81-81,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
测试平台
闪存
服务提供商
工程设计
ns公司
测试功能
半导体
存储器
分类号
TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代NVM设备调试和设计特性分析[J]
.电信网技术,2008(4):43-43.
2
赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代45nm非易失性存储器设备调试和设计特性分析[J]
.半导体技术,2008,33(4):376-376.
3
惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J]
.电子测量技术,2007,30(3):192-192.
4
ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号[J]
.国外电子测量技术,2009,28(3):20-20.
5
惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J]
.电子与电脑,2007(4):41-41.
6
惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J]
.电信技术,2007(4):54-54.
7
本刊通讯员.
惠瑞捷荣登VLSI Research客户满意度榜首[J]
.电子与封装,2009,9(7):21-21.
8
Rambus选择惠瑞捷V93000 HSM系列测试下一代超高速存储芯片[J]
.电信网技术,2008(4):54-54.
9
惠瑞捷推出业内首创可扩展测试机台系列V93000 Smart Scale平台[J]
.电子技术应用,2011,37(10):6-6.
10
本刊通讯员.
ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号[J]
.电子与封装,2009,9(3):45-46.
国外电子测量技术
2008年 第10期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部