边界扫描技术在复杂电路缺陷检测中的应用
摘要
在我国的电子产品制造业，传统的顶针测试方法伴随着电路越来越复杂，元件密度目益加大而面临严峻的考验。利用边界扫描技术可以很好地解决进行电路功能与缺陷检测的问题，增加设备的可维护性。文章在介绍边界扫描技术的基础上，提出了一个基于BST技术的基本电路缺陷检测方案。
出处
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2008年第5期54-56,共3页
Modern Surface Mounting Technology Information
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