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应用红外碳硫仪测定碳化硅中S含量

Determination of S Contents in Carborundum by the analyzer of High-frequency Infrared Carbon-sulphur
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摘要 介绍了应用高频红外碳硫仪测定碳化硅中的S含量。探讨了锡粒、纯铁、钨粒作为助熔剂的用量,并以生产用碳化硅经定值作为校准样品校正仪器,本方法的相对标准偏差RSD<1%(n=6)。 The method of determining the S contents in carborundum by the analyzer of High frequency Infrared Carbon-sulphur was described in this paper. The dosage of stannum grain, pure iron and tungsten grain as smelting flux were discussed. and the analyzer was revised by chemical determined carborundum. The relative standard deviation (RSD) was less than 1% (n=6).
作者 廖红梅
出处 《福建分析测试》 CAS 2008年第4期48-50,共3页 Fujian Analysis & Testing
关键词 高频红外碳硫吸收法 碳化硅 硫含量 absorbing method of High-frequency infrared carbon-sulphur carbonmdum sulphur contents
  • 相关文献

参考文献3

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  • 3[4]刘天煦.化验员基础知识问答口[M].北京:化学工业出版社,2004:33-50

共引文献2

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