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未来IC设计中会有20%的测试工程师
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摘要
在Mentor Graphics EDA Tech Forum2008上海站上,Mentor Graphics介绍了电子系统设计领域最新发展以及公司从ESL到Silicon完整的设计方案。Mentor Graphics董事会主席、CEO Walden Rhines在主题演讲中表示.随着测试成本的增加,可测试设计在未来的IC设计活动中将具有突出地位,在未来的设计活动中会有20%的测试人员。《EDN China》借此请Rhines对EDA的技术发展谈了看法。
作者
姚钢
机构地区
EDN China
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008年第11期48-48,64,共2页
EDN CHINA
关键词
IC设计
测试成本
GRAPHICS
工程师
SILICON
电子系统设计
测试设计
EDA
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子设计技术 EDN CHINA
2008年 第11期
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