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抗恶劣环境光盘的结构和温度特性研究
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摘要
分析了磁光记录技术的发展趋势,研究了磁光盘的结构及溅射工艺,研究成功了宽温(使用温度范围-20~+60℃、高湿60%~95%RH)抗恶劣环境的磁光盘。
作者
胡作启
李佐宜
熊锐
杨晓非
胡用时
机构地区
华中理工大学
出处
《磁记录材料》
1997年第3期4-6,共3页
Magnetic Recording Materiais
关键词
光盘
结构
湿度
抗恶劣环境
磁光盘
分类号
TP333.4 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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磁记录材料
1997年 第3期
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