摘要
由于其他的失效 ESD 模式的解决,近几年集成电路的生产中,CDM 失效的问题愈加突出。介绍了 CDM 原理及分类,主要探讨了器件静电放电(ESD)防护设计和 CDM 防护(环境、包装、操作等)的方法。
In recent years ,the failure of CDM becomes prominent after the resolution of other ESD models, in this article we try to discuss the charged device model ESD protection.
出处
《信息技术与标准化》
2008年第10期31-33,共3页
Information Technology & Standardization