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SOC微处理器核测试技术研究

Brief Introduce Testing Technique of SOC Microprocessor Core
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摘要 介绍了SOC中微处理器核的几种测试方法(并行测试法,串行测试法,测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法)和SOC微处理器核的调试支持,并着重介绍了其中测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法两种方法的具体实现。 This paper introduces several testing techniques (parallel testing technique, serial testing technique, testing technique of testing interface controller(TIC) and build -in self testing technique)and debugging surport of SOC microprocessor core, furthermore emphasize concrete realizition of two testing techniques as testing technique of testing interface controller(TIC)and build- in self testing technique.
作者 于祥苓 李响
出处 《微处理机》 2008年第4期15-16,共2页 Microprocessors
关键词 微处理器核 内建自测试 扫描 Microprocessor core BIST Scan
  • 相关文献

参考文献2

  • 1中国半导体行业协会集成电路分会编译.SOC现状及未来[M].2004.
  • 2于敦山,盛世敏,田泽.SoC设计与测试[M].北京:北京航空航天大学出版社,2003.

共引文献5

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