摘要
1.EDXRF 分析仪的发展简史和趋势发展简史:1895年 Rontgen 发现 X—光,1895～1911年 Barkla 发现 X—荧光,1913～1914年 Moseley 发现 X 射线特征频率和 Z 的关系,1922年 Hadding 用原级 X—射线光谱(XRS)进行矿物分析。XRS 轫致辐射严重,检出限不够低,诞生了 X—射线荧光光谱(XRF)1948年研制出第一台 WDXRF,1961年 Si(Li)检测器,1969年 Birks 研制出第一台 EDXRF,1973年 Waldselh 提出建立二次靶的可能性。发展趋势:ED 七十年代开始进入市场,八十年代随计算机技术的进展取得了重大发展。销售额由 WD 的1/2发展成2。在工业、研究、公共事业于各方面有广泛应用,成为一种新的、发展迅速的、具有广阔前景的分析方法。
