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利用硅光电池测量硅单晶半导体材料的禁带宽度 被引量:6

Measuring the band gap of silicon using silicon photocells
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摘要 以白炽灯为光源照射单晶硅光电池,测量在硅光电池前加不同截止波长的滤色片时的短路电流.通过短路电流和截止波长的关系,经拟合得到单晶硅材料的长波限,再利用半导体材料的长波限与半导体的禁带宽度Eg的关系,即Eg=hc/λ,计算得出其禁带宽度. The crystalline silicon photocell is illuminated by an incandescent lamp, and the shortcircuit current of the photocell is detected when filters of different cut-off wavelength are put in front of it. Consequently, the long wavelength limit via the relation between short-circuit current and cut- off wavelength is calculated, then the band gap of silicon (1.13 eV) is given according to the equation Eg =hc/λ.
作者 唐爽 岑剡
出处 《物理实验》 2008年第11期6-8,共3页 Physics Experimentation
关键词 硅光电池 短路电流 截止波长 禁带宽度 silicon photocell short-circuit current cut-off wavelength band gap
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