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中束流平行扫描式离子注入机的现状 被引量:2

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摘要 全面介绍了当今集成电路制造工业中四种中束流平行扫描式离子注入机的发展情况,由于平行束扫描方式的实现,使得8英寸硅片的注入均匀性小于0.5%
作者 何晓阳
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第1期61-64,F003,共5页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

同被引文献4

  • 1Michael Quirk,Julian Serda.Semiconductor Manufacturing Technology[M].北京:电子工业出版社,2003:458-460.
  • 2应用材料.可移动元件的多向扫描和其离子束监测设备[P].中国:CN 1647235A.2005-07-27.
  • 3应用材料公司.可移动元件的多向扫描和其离子束监测设备[P].中国:CN1647235A,2005.07.27.
  • 4孙雪平,郭建辉,彭立波,等.平行透镜设计[C].长沙:第十三届全国三束学术年会,2005.

引证文献2

二级引证文献1

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