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中束流平行扫描式离子注入机的现状
被引量:
2
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摘要
全面介绍了当今集成电路制造工业中四种中束流平行扫描式离子注入机的发展情况,由于平行束扫描方式的实现,使得8英寸硅片的注入均匀性小于0.5%
作者
何晓阳
机构地区
中国科学院上海冶金研究所微电子学分部
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第1期61-64,F003,共5页
Semiconductor Technology
关键词
离子注入机
中束流
平行扫描
半导体器件
分类号
TN305.3 [电子电信—物理电子学]
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半导体技术
1997年 第1期
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