GE传感与检测科技在世界无损检测大会展示创新技术

2008在10月26～28日，作为世界无损检测大会的主赞助商，GE传感与检测科技展出了其在无损检测（NDT）解决方案领域的最新创新技术。引人注目的一系列GE产品包括：第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、CR^x Flex计算机射线成像扫描仪（特别为NDT领域开发）、Phasec3系列便携式涡流探伤仪以及全新的Phasor系列便携式相控阵探伤仪。