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GE在世界无损检测大会上展示新技术

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摘要 GE传感与检测科技不久前在上海召开的世界无损检测大会(WCNDT)上展出了其在无损检测(NDT)领域的最新解决方案。作为此次大会的主赞助商,该公司推出了一系列引人注目的产品,其中包括:第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、CRx Flex计算机射线成像扫描仪(专为NDT领域开发)、Phasec 3系列便携式涡流探伤仪以及全新的Phasor系列便携式相控阵探伤仪。
出处 《自动化信息》 2008年第11期8-8,共1页 Automation Information

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