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双STD容错系统的故障测试与诊断

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摘要 给出双STD容错系统的故障测试与诊断的一种方法,该方法以双STD工控机为基础,编制了程序来测试与诊断双STD容错系统的CPU,RAM及DSC部件,并略估算系统故障覆盖率。
出处 《华中理工大学学报》 CSCD 北大核心 1997年第A02期86-87,91,共3页 Journal of Huazhong University of Science and Technology
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