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论现行IEC密封电子元器件密封性标准的合理性 被引量：1

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摘要 本文从密封性理论研究入手,论证了密封电子元件(以下简称密器)的密封性与可靠性、储存(包括在规定环境中使用)寿命(T)的关系.文章最后通过对储存环境对密封产品寿命影响的予测研究及生产实践,拟订了以Za为密封性指标的分类等级及其相应的检测指标标准.由于它的合理性、科学性,建议向IEC及MIL有关密封标准化组织推荐.
作者 黄秀铭
机构地区 机电部第四十研究所
出处 《环境条件与试验》 1990年第4期42-46,共5页
关键词 电子元器件 IEC标准 密封 可靠性
分类号 TM606 [电气工程—电力系统及自动化]
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引证文献1

环境条件与试验
1990年 第4期

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