摘要
1.基于纠错码理论的新概念和测定方法原始误码率传统的定义是误码总数与被测码位总数之比(称为统计定义),此定义只涉及误码总数而与误码的分布状态无关,于是对大容量存储体(如光盘)的批量生产的质量控制和光盘系统的可靠性设计失去指导意义,本研究以项目主持人关于Reed-Solomon码的码字分布理论为基础,从分析误纠发生的统记现象入手,提出误码率的非统计定义和测定方法。 a)误码率的非统计定义:记M为存储体的容量,{C(n_i+r,n_i)
出处
《光电子．激光》
EI
CAS
CSCD
1997年第A10期51-51,57,共2页
Journal of Optoelectronics·Laser
基金
国家自然科学基金项目编号:69277024
