期刊文献+

提高半导体器件欧姆接触可靠性的扩散阻挡层及其应用 被引量:2

Diffusion Barrier Layer and Application in Improving Ohmic Contact Reliability of Semiconductor Devices
下载PDF
导出
摘要 为了提高半导体器件欧姆接触的可靠性,一般要在金属化系统中加扩散阻挡层。文中介绍了扩散阻挡层的种类及其特性,并进行了比较和讨论。最后给出了在实际成功应用的例子。 In order to improve ohmic contact reliability of semiconductor devices,the diffusion barrier layer is introduce into matallization system.In this paper,the diffusion barrier layer types and properties are presented and discussed,and the comparison among them are made also.The examples of the practically successful applications are given.
机构地区 北京工业大学
出处 《电子工艺技术》 1998年第1期4-6,共3页 Electronics Process Technology
基金 北京市科技新星计划基金
关键词 半导体 欧姆接触 扩散阻挡层 Semiconductor devices Ohmic contact Diffusion barrier layer
  • 相关文献

同被引文献16

引证文献2

二级引证文献7

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部