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导纳谱研究锗硅单量子阱的退火效应

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摘要 利用导纳谱研究了锗硅单量子阱的热稳定性.导纳谱热发射模型的理论模拟和深能级缺陷研究表明:在900℃以下退火10分钟,晶格弛豫并不明显,但原子的互扩散引起量子阱中子能级严重降低.同时,我们计算出了原子的互扩散系数,以及单量子阱Si/Si0.75Ge0.25/Si中原子互扩散的热激活能1.08eV.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期66-71,共6页 半导体学报(英文版)
基金 国家自然科学基金
  • 相关文献

参考文献3

  • 1刘晓晗,半导体学报,1996年,17卷,552页
  • 2陆--,Phys Rev B,1995年,51卷,4213页
  • 3Chang S J,Appl Phys Lett,1989年,54卷,13期,1253页

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