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砷化镓金属半导体场效应管接触退化的检测与分析技术

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摘要 本文叙述了反映砷化镓金属半导体场效应管接触退化的结构敏感参数的检测技术,并通过实例说明如何根据结构敏感参数的变化对砷化镓金属半导体场效应管进行失效定位和失效机理分析。
作者 费庆宇
机构地区 电子工业部五所
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 1998年第1期17-21,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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参考文献1

  • 1[英]罗德里克(E·H·Rhoderick) 著,周章文,齐学参.金属半导体接触[M]科学出版社,1984.

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