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砷化镓金属半导体场效应管接触退化的检测与分析技术
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摘要
本文叙述了反映砷化镓金属半导体场效应管接触退化的结构敏感参数的检测技术,并通过实例说明如何根据结构敏感参数的变化对砷化镓金属半导体场效应管进行失效定位和失效机理分析。
作者
费庆宇
机构地区
电子工业部五所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1998年第1期17-21,共5页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
砷化镓
场效应管
结构敏感参数
失效分析
分类号
TN386.106 [电子电信—物理电子学]
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