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NI Days 2008全球图形化系统设计盛会中国站圆满落幕——十年历程,致力创新;实现绿色应用与科技创新的完美结合

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摘要 美国国家仪器有限公司(National Instruments,NI)2008年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于11月18日在上海国际会议中心圆满落幕。600余位工程师、11家国内外知名测试测量企业以及20多家行业媒体到会。围绕“工程师的奥林匹克——绿色应用,科技共享”的主题,本次NIDays技术盛会通过5大专题、18场技术讲座,逾40种案例演绎与新品展示等,向参会工程师全方位地展现了绿色应用和科技创新的完美结合。
出处 《国外电子测量技术》 2008年第12期72-73,共2页 Foreign Electronic Measurement Technology

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