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T2000 LSMF/800MDM/PMU32/AAWGD消费类芯片测试介绍

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摘要针对数字消费产品用SoC芯片的测试,爱德万测试在T2000系列基础上新开发了LSMF、800MDM、PMU32及AAWGD的测试作为测试解决方案。本文将介绍消费类芯片测试上的新课题及基于各新开发模块的解决方案,以及以模块灵活构建的T2000测试系统。

作者 ADVANTEST CORPORATION

机构地区 Advantest(Suzhou)Co.

出处《中国集成电路》 2008年第10期69-73,共5页 China lntegrated Circuit

关键词芯片测试消费类 T2000 测试解决方案 SOC芯片测试系统开发模块

分类号 TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]

引文网络
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中国集成电路

2008年第10期

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