美国开发出检测纳米材料磁性特征新方法

美国仁斯里尔工业学院2008年12月8日宣布，研究人员成功地将直径为1nm至10nm的钴纳米结构团镶嵌于多层碳纳米管中，开发出了一种检测纳米材料磁性特征的新方法。