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检测不可能吗?可用模拟边界扫描来解决被引量：1

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摘要随着分立元件的体积越来越小,你不能再考虑用探针来检测,而应考虑用模拟边界扫描。

作者姜慧慧符敏宜陈怀琛

出处《国外电子测量技术》 1998年第1期35-37,共3页 Foreign Electronic Measurement Technology

关键词数字集成电路测试边界扫描

分类号 TN431.207 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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1　Buchla,David.Applied electronicinstrumentation and measurement[M].New York:Maxwell Macmillan InternationalPub.Group,1992.
2　Howard W Markstein.Electrical test:assuring manufacturing success[J].ElectronicPackaging & Production,1999,39(3):67-73.
3　Howard W Markstein.AOI and X-ray find a niche in assemblied PCB Inspection[J].ElectronicPackaging & Production,1998,38(15):31-35.
4当前电子制造业面临的测试问题[J].电子测试,1998,11(4):26-27. 被引量：1

引证文献1

1肖展业,杨素行,彭毅.测试仪综述[J].电子工艺技术,2000,21(5):188-190. 被引量：12

二级引证文献12

1鲜飞.在线测试技术的现状和发展[J].电子工业专用设备,2006,35(5):6-12. 被引量：4
2鲜飞.在线测试技术的现状和发展[J].电子与封装,2006,6(6):3-8. 被引量：3
3鲜飞.在线测试技术的现状和发展[J].印制电路信息,2006,14(11):61-66.
4鲜飞.在线测试技术的现状和发展[J].电子测试,2007,18(1):98-104. 被引量：1
5赵更寅.PCB的检测技术综述[J].科技信息,2007(15):71-71. 被引量：3
6邢娟,汪剑鸣,王兴波,崔佳.Hough变换在电路板检测中的应用[J].天津工业大学学报,2008,27(1):63-66. 被引量：1
7鲜飞.高密度封装技术推动测试技术发展[J].电子工业专用设备,2008,37(2):32-35. 被引量：4
8鲜飞.高密度封装技术推动测试技术发展[J].中国集成电路,2008,17(7):65-68. 被引量：2
9鲜飞.在线测试技术的现状和发展[J].电子测试,2008,19(9):35-41. 被引量：5
10邓威,蒋庆磊,刘刚,房迅雷.飞针测试在数字T/R组件检测中的应用[J].电子工艺技术,2015,36(4):208-210. 被引量：5

1邱激文.自动边界扫描测试[J].国外电子测量技术,1997,16(1):30-32.
2魏方.改进的边界扫描技术和测试工具将产生接近100%的错误覆盖率[J].国外电子测量技术,1996,15(3):35-35.
3安捷伦推出多功能台式边界扫描分析仪[J].机电工程技术,2013(3):95-95.
4谢正光.集成电路测试相关标准研究与探讨[J].微电子学,2004,34(3):246-249. 被引量：13
5郭学仁.边界扫描可测性设计及其VHDL描述[J].桂林电子工业学院学报,1995,15(4):1-8.
6车明康.用边界扫描技术解决复杂电路板的测试问题[J].电子工业专用设备,1990(2):35-39.
7王坤.可测性设计技术的发展[J].科技致富向导,2013(23):90-90.
8毛成巾.印制板组件的边界扫描检测技术[J].微电子测试,1997,11(3):35-46.
9孙东,缪栋,张庆雅.基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现[J].现代电子技术,1998,21(7):6-8.
10董瑞军.探针输入电容对测量精度的影响[J].国外电子测量技术,1996,15(2):28-30.

国外电子测量技术

1998年第1期

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