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ScanBIST:扫描机内自检技术 被引量:1

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摘要 本文主要介绍了用于ASIC检测与诊断的一种新方法:ScanBIST,并对可测性设计,边界扫描技术进行了研究。
出处 《国外电子测量技术》 1998年第1期49-51,共3页 Foreign Electronic Measurement Technology
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