摘要
2008年5月20日，IEC／TC65／SC65B（装置和过程分析）2008年年会在日本东京举行。出席本次会议的中国代表有：国家标准化管理委员会刘大山；机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪；北京分析仪器研究所马雅娟；西克麦哈克（北京）仪器有限公司方培基、姜培刚；聚光科技（杭州）有限公司郭晓维、王健；广州飒特电力红外技术有限公司吴一冈；上海工业自动化仪表研究所范铠、李明华等。
出处
《仪器仪表标准化与计量》
2008年第6期4-4,7,共2页
Instrument Standardization & Metrology
